電子機器の製造に使われている検査治具のICソケットは、集積回路や大規模集積回路の交換・変更を容易に行うことができます。性能を試すためにはこれらの部品を何度も交換・変更する必要があります。集積回路はIntegratedCircuitを省略してICと呼ばれており、大規模集積回路はLargeScaleIntegrationを省略してLSIと呼ばれます。ICは半導体であるシリコンウェハー上に抵抗やコンデンサ、トランジスタなどの素子がパッケージングされており回路を形成しています。
論理回路や増幅回路は基本的な構成が決まっていますが、最初から製作するとコストと手間がかかります。既にパッケージングされているICやLSIを使えば、開発業務を効率的に行うことができます。LSIはICの集積度をさらに高めたもので、スマートフォンやパソコンなど電子機器の開発に欠かせません。ICやLSIを直接的に基盤へハンダ付けすると、交換や変更を簡単には行えなくなってしまいます。
検査治具であるICソケットを使えば、直接的にこれらをハンダ付けする必要がないため効率的です。ICソケットには汎用型の他にも、改良が加えられたものや特別に設計されたものが存在します。改良が加えられた電子機器は既存の検査治具を使って性能テストができない場合があります。デバイス形状や使用環境、既存の装置に合わせて特別に設計されたICソケットを使えば既存の検査治具が使えない場合でも対応が可能です。
簡易的な評価治具が欲しい場合や汎用型のICソケットでは評価が難しい場合、既存の設備を活用したい場合などにもオリジナルな検査治具が活躍しています。